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                • BC3199模数混合集成电路测试系统
                  BC3199模数混合集成电路测试系统,用于模拟集成电路、数字集成电路、音频和数?;旌霞傻缏返牟馐?,生产厂家进行圆片中测或封装成测,各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析。
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                  更新日期

                  2025-02-18
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                • LX9300大功率分立器件测试系统
                  LX9300大功率分立器件测试系统本测试系统不仅满足大功率VDMOS的GFS(跨导)测试、IGBT功率参数的测试,还涵盖中小功率半导体器件的测试,适用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测,各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析测试。
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                • LX9600分立器件动态参数测试系统
                  LX9600分立器件动态参数测试系统是半导体分立器件动态参数测试的设备, 用于MOSFET、IGBT、快恢复二极管、双极型三极管的动态参数测试。测试原理符合相应的国家标准、国家用标准,系统为??榛?、开放式结构,具有升级扩展潜能。
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                • 聚源SAR雷达测试系统
                  聚源SAR雷达测试系统是作为光学等常规手段的补充,主要用于夜晚等不适合光学作业情况下使用,对SAR的需求概况为“看的见,能定位”。微小型FMCW-SAR系统采用LTTC等微组装技术,实现高频、低频和数字电路的3D互连,如图 1所示;系统本身能内埋无源器件,从而能够实现了SAR系统的轻量小型化,具有体积小,重量轻,分辨率高等特点
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